可變角度反射率量測系統
產品型號:無
產品分類:自動化設備/產業機械 / 檢測設備 / 檢測、量測設備及其另件
產品特色
● 可量測光譜範圍:380~1100nm、280~1050nm、900~1600nm
● 具有程式自動校正功能
● 可程式控制單一入射角與反射角的反射率量測
● 可程式控制單一入射角與特定反射角範圍之反射率掃描量測與分析
● 可程式控制特定入射角範圍與特定反射角範圍之反射率掃描量測與分析
● 可量測分析反射/漫射比例及其與波長的相依性
● 可計算單一膜層之膜厚
● 具資料庫擴充功能
● 可擴充穿透率與吸收之量測與分析
● 可搭配選購樣本旋轉台,進一步量測三維全角度反射與漫射曲線
【其他領域應用】
◆ 超材料(meta-material)樣品在不同偏振態下的光譜特性
◆ 具有各向異性薄膜或晶體樣品之角度相依的光譜量測
◆ 表面等離極化(SPP)與表面電將共振(SPR)之角度相依的光譜量測
產品規格
此系統為二維全角度反射與漫射之量測,除了可以分析樣本表面或膜層的鏡向反射率,對於多角度的散射行為,及其與波長的相依性有更進一步的自動量測功能,亦可應用於表面反射率量測、膜厚分析、表面平整度分析等等。搭配樣本旋轉台設計,可以進一步擴充為三維全角度反射與漫射之量測系統;也可擴充為穿透-反射-吸收量測系統。常應用於半導體、二維或三維材料、光導、太陽能、發光二極體(LED)、面板、鍍膜等相關產業。
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