光(電)激發光光譜系統
產品型號:LSLS-R
產品分類:自動化設備/產業機械 / 檢測設備 / 檢測、量測設備及其另件
產品特色
● 材料能隙或缺陷能階的分析
● 光(電)激發光譜中的半高寬(FWHW)的計算
● 可應用於瞬態響應的時間解析量測(選配)
● 可提取材料能隙或缺陷能階
● 搭配掃描共軛顯微鏡,可繪製光激發光光譜(螢光)的2D掃描影像(選配)
● 搭配偏制電壓和偏置光模組,可模擬不同的操作環境(選配)
● 搭配溫度控制平台,可作能隙之溫度係數的分析(選配)
● 搭配不同雷射,可作表面複合速率的分析(選配)
● 不照光下之電流-電壓(IV)特性曲線量測以及特徵參數的分析(選配)
產品規格
光/電激發光光譜(PL/EL)量測系統為一項用於檢測光電元件或材料特性的量測技術。光電元件的種類眾多,主要應用於發光二極體、太陽能電池、光偵測器及電化等等,其元件與材料特性與其發光機制有很大的相關性,從單一PN接面到多接面的元件;從本質接面到異質接面;從表面微結構到主動層的奈米結構設計,各有不同的光學特性與光譜響應。
- 電激發光光譜 ( EL )
注入電流條件 →電流源編程 → 連續波模式 ( CW mode )/ 脈衝模式 ( Pulse mode ) |
如藉由電子-電洞之電漿模型( Electron-Hole-Plasma model )可計算出能隙與接面溫度,並可以進一步研究缺陷能階與缺陷密度。藉由脈衝模式的電流調變與鎖相放大技術的應用,可以量測出頻率響應。客製化的量測程式亦可應用於長時間的材料或元件可靠度研究分析。
- 光激發光光譜 ( 螢光,PL )
雷射激發光源 →選用 →穩態/ 特定調變頻率的模式 |
如頻率響應的研究亦可以透過鎖相技術,來達成調變之功能。激發光子能量(波長)與功率密度,可分析不同吸收層深度,與注入載子濃度之光學轉換機制的研究。 更可藉由分析激發條件(如:光子能量、功率密度和調變頻率)和環境(溫度和元件型態)的相關性,來研究與辨識許多光學元件和材料。
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