光致誘導電流(電壓)量測系統
產品型號:LSPR-V/C
產品分類:自動化設備/產業機械 / 檢測設備 / 檢測、量測設備及其另件
產品特色
● 可掃描2D與3D的光誘導電流/電壓的分布圖,並可設定影像補插點數
● 可分析開路電壓(Voc)與短路電流(Isc)分布圖,如對於具有相同能隙的
吸收層的太陽能電池片,誘導電壓的強度與元件的開路電壓成正比。並
可評估得到結晶矽(c-Si)、微晶矽(uc-Si)以及薄膜太陽能電池的局部缺
陷、裂紋、缺陷分流點/面積
● 可調整雷射功率和掃描間距、掃描點停留時間
● 搭配多波長雷射光源(405nm, 532nm, 660nm或其他)所產生出的誘導電流/電壓,繪製出縱
向深度分布的3D影像,及光激發光光譜的發光特性分析(選配),可快速且有效檢知太陽能
電池片或元件的品質與缺陷分佈,可做為太陽能電池元件之縱深電壓分佈、光電流蒐集與
缺陷復合的整合性檢測系統
● 搭配溫度控制平台,可作能隙之溫度係數的分析(選配)
● 搭配光致衰減(LID) 的分析(選配)
產品規格
此系統是光電元件或材料對於光響應之均勻性量化的系統,可量測二維光誘導電流(壓)的變化分布,來分析各種的缺陷分佈及均勻性,如可以量測太陽能電池之光誘導電流的均勻性,分析光電元件量子效率與電阻的分佈,研究元件吸收與電荷生成的微區特性,以及光電材料接面、半導體接面的品質分佈等,將有助於了解元件特性與缺陷分布,可優化電池及模組結構,進一步貢獻到製程上的改善。
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